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本試驗(yàn)箱適用于電器電子元器件、印刷電路板組件等的壽命試驗(yàn)研究。通過(guò)對(duì)這些試件施加包括高溫階躍、低溫階躍、快速變溫循環(huán)、六自由度非高斯寬帶隨機(jī)振動(dòng)等單一或綜合應(yīng)力，逐漸增大應(yīng)力，確定其所能承受的應(yīng)力極限。這有助于在研發(fā)、設(shè)計(jì)、試制、量產(chǎn)階段快速識(shí)別產(chǎn)品缺陷并進(jìn)行改進(jìn)，縮短研發(fā)時(shí)間，在保證產(chǎn)品質(zhì)量的前提下實(shí)現(xiàn)快速上市的目標(biāo)。